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常见问题

消除温度对结构应变测试影响的措施

上一节:温度补偿片方法的局限性

温度变形对结构试验中应变测试的影响是非常复杂的,可以采用以下措施来排除或尽量减小温度的影响。

( 1)选择温度变化较小的试验时间, 通常选择在晚上,温度变化幅度是最小的, 一般在1 ~ 3!, 而且温差也小, 温度对应变测试的影响比较小, 能满足试验的要求。

( 2)无法在晚上进行的试验, 在正式试验前, 先测试结构在不加载情况下的各测点应变εt (t) , 并认为所测得的应变就是由环境温度变化引起的, 在一天中的不同时段记录应变测试数据, 并记录当时的温度, 读数时段的确定, 应与实际加载试验的数据测读相对应, 然后在第二天实际试验时, 每次测读数据均记录当时的温度, 这样实测得到的应变数据由荷载效应ε(P ) 和温度应变εt ( t) 组成, 即

εt = εt ( t) + ε(P ) ( 1)

结构由荷载引起的应变为

ε(P ) = εt - εt ( t) ( 2)

通过事先测试各测点温度应变和温度的关系曲线, 可以在结构试验的应变测试数据中将温度应变除去。


<span  宋体, 微软雅黑, arial, sans-serif;font-size:13px;line-height:19px;background-color:#ffffff;">ASMB1-16、ASMB1-8是济南西格马公司自主研发的同系列性能极高的静态电阻应变仪,与本公司专用计算机软件配合使用,主要测量静态应变、应力、残余应力,还可测量电压、电流、位移、压力、温度等其它静态物理信号。应变仪所用的A/D、CPU、存储器、通信等芯片以及电桥所配的精密电阻均精选自国际顶尖的电子器件制造商,无论是原理图设计还是线路板上元器件的布局及连线,都充分考虑了温度、湿度、振动等因素以及静电、脉冲群、电磁辐射等电磁干扰的影响,还进行了严格的泄露电流、绝缘等级、绝缘强度等安全规程测试,因而测量精度高、线性好、温漂小,可长时间可靠地工作,可广泛应用于工业现场、企业研发测试中心、大学教学实验的应变、应力、位移、压力等物理量综合测试。

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